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        1. 深圳市中圖儀器股份有限公司

          PRODUCT DISPLAY

          當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>輪廓儀>>光學(xué)3D輪廓儀>> SuperViewW1光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀

          光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀

          參  考  價: 960000

          訂  貨  量: ≥1 臺

          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          產(chǎn)品型號:SuperViewW1

          品       牌:CHOTEST/中圖儀器

          廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

          所  在  地:深圳市

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          更新時間:2024-07-18 09:40:47瀏覽次數(shù):328次

          聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
          產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,電氣,綜合
          SuperViewW光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀利用光學(xué)干涉原理,具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。

          中圖儀器SuperViewW光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀利用光學(xué)干涉原理,具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

          光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀

          產(chǎn)品功能

          1)樣件測量能力:單一掃描模式即可滿足從超光滑到粗糙、鏡面到全透明或黑色材質(zhì)等所有類型樣件表面的測量;

          2)單區(qū)域自動測量:單片平面樣品或批量樣品切換測量點(diǎn)位時,可一鍵實現(xiàn)自動條紋搜索、掃描等功能;

          3)多區(qū)域自動測量:可設(shè)置方形或圓形的陣列形式的多區(qū)域測量點(diǎn)位,一鍵實現(xiàn)自動條紋搜索、掃描等功能;

          4)自動拼接測量;支持方形、圓形、環(huán)形和螺旋形式的自動拼接測量功能,配合影像導(dǎo)航功能,可自定義測量區(qū)域,支持?jǐn)?shù)千張圖像的無縫拼接測量;

          5)編程測量功能:支持測量和分析同界面操作的軟件模塊,可預(yù)先配置數(shù)據(jù)處理和分析步驟,結(jié)合自動單測量功能,實現(xiàn)一鍵測量;

          6)數(shù)據(jù)處理功能:提供位置調(diào)整、去噪、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

          7)數(shù)據(jù)分析功能:提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。

          8)批量分析功能:可根據(jù)需求參數(shù)定制數(shù)據(jù)處理和分析模板,針對同類型參數(shù)實現(xiàn)一鍵批量分析;

          9)數(shù)據(jù)報表導(dǎo)出:支持word、excel、pdf格式的數(shù)據(jù)報表導(dǎo)出功能,支持圖像、數(shù)值結(jié)果的導(dǎo)出;

          10)故障排查功能:配置診斷模塊,可保存掃描過程中的干涉條紋圖像;

          11)便捷操作功能:設(shè)備配備操縱桿,支持操縱桿進(jìn)行所有位置軸的操作及速度調(diào)節(jié)、光源亮度調(diào)節(jié)、急停等;

          12)環(huán)境噪聲評價:具備0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲評價功能,定量檢測出儀器受到外界環(huán)境干擾的噪聲振幅和頻率,為設(shè)備調(diào)試和故障排查提供定量依據(jù);

          13)氣浮隔振功能:采用氣浮式隔振底座,可有效隔離地面?zhèn)鲗?dǎo)的振動噪聲,確保測量數(shù)據(jù)的高精度;

          14)光源安全功能:光源設(shè)置無人值守下的自動熄燈功能,當(dāng)檢測到鼠標(biāo)軌跡長時間未變動后會自主降低熄滅光源,防止光源高亮過熱損壞,并有效延長光源使用壽命;

          15)鏡頭安全功能:雙重防撞保護(hù),軟件ZSTOP防撞保護(hù),設(shè)置后即以當(dāng)前位置為位移下限位,不再下移且伴有報警聲;設(shè)備配備壓力傳感器,并在鏡頭處進(jìn)行了彈簧結(jié)構(gòu)設(shè)計,確保當(dāng)鏡頭碰撞后彈性回縮,進(jìn)入急停狀態(tài),大幅減小碰撞沖擊力,有效保護(hù)鏡頭和掃描軸,消除人為操作的安全風(fēng)險。

          光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀


          SuperViewW光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量??蓮V泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。


          結(jié)果組成

          1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等;

          2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;

          3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;

          4、薄膜和厚膜的臺階高度測量;

          5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;

          6、微電子表面分析和MEMS表征。

          光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀

          主要應(yīng)用領(lǐng)域

          1、用于太陽能電池測量;

          2、用于半導(dǎo)體晶圓測量;

          3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測量;

          4、用于機(jī)械部件的計量;

          5、用于塑料,金屬和其他復(fù)合型材料工件的測量。


          應(yīng)用領(lǐng)域案例

          光學(xué)納米級光學(xué)表面粗糙度測量儀


          部分技術(shù)指標(biāo)

          型號W1
          光源
          白光LED
          影像系統(tǒng)1024×1024
          干涉物鏡

          標(biāo)配:10×

          選配:2.5×;5×;20×;50×;100×

          光學(xué)ZOOM

          標(biāo)配:0.5×

          選配:0.375×;0.75×;1×

          物鏡塔臺

          標(biāo)配:3孔手動

          選配:5孔電動


          XY位移平臺

          尺寸320×200㎜
          移動范圍140×100㎜
          負(fù)載10kg
          控制方式電動
          Z軸聚焦行程100㎜
          控制方式電動
          Z向掃描范圍10 ㎜
          主機(jī)尺寸(長×寬×高)700×606×920㎜

          懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

          如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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